Microscopía de fuerza atómica

• Características: 1. La sonda de escaneo integrada y la platina de muestra mejoran la capacidad antiinterferencia del sistema de suspensión de resorte.
• El dispositivo de posicionamiento de sonda y láser de precisión hace que el cambio de sonda y el ajuste del punto sean simples y convenientes.
• El acercamiento automático de la muestra a la sonda proporciona una forma eficiente de evitar el choque del voladizo.
• La aproximación vertical de la sonda de muestra permite lograr un posicionamiento preciso del área de interés.
• El área de escaneo de muestra de interés se puede seleccionar libremente con una mesa XY de amplio rango y alta precisión.
• El sistema CCD de vista superior garantiza la observación y el posicionamiento en tiempo real de la sonda en la región de muestra seleccionada.
• El diseño modular del sistema de control electrónico facilita el mantenimiento y las mejoras continuas.
• El modelo compacto 2000 se puede transportar fácilmente dentro de un equipaje de aluminio.
• La caja hermética del modelo 1000 proporciona un ambiente controlado.

Parámetros técnicos